Lestari, Ayu Zakiyah and Maulida, Nabilah (2024) Analisis Kandungan Logam Dan Ftalat pada Komponen Eletronik menggunakan XRF dan Py/GC-MS. JRSKT - Jurnal Riset Sains dan Kimia Terapan, 10 (1). pp. 99-106. ISSN 2302-8467
Full text not available from this repository.Abstract
Perkembangan elektronik pada bidang industri mempengaruhi kehidupan sehari hari. Penggunaannnya yang berlebihan dapat meningkatkan resiko berbahaya pada penggunanya. Salah satu faktor bahaya pada komponen elektronik yang digunakan adalah terdapatnya logam dan flatat. RoHS merupakan regulasi Uni Eropa yang mengatur pembatasan penggunaan zat-zat berbahaya seperti Pb, Hg, Cd, dan Cr6+, serta PBB, PBDE, DIBP, DBP, BBP, dan DEHP dalam produk-produk elektronik dan listrik. Penelitian ini bertujuan untuk mengetahui kandungan zat-zat berbahaya yang diatur oleh RoHS pada sampel komponen elektronik. Metode yang digunakan adalah skrining awal menggunakan XRF dan penetapan kadar ftalat dengan Py/GC-MS. Hasil penelitian menunjukkan bahwa sampel tidak mengandung logam berat (Cd, Hg, Cr), DIBP, BBP, dan turunan Br. Kandungan Pb, DBP, dan DEHP yang terdeteksi memiliki konsentrasi rendah dan tidak melebihi batas maksimum penggunaan ftalat yang ditetapkan oleh RoHS, sehingga part elektronik tersebut dapat digunakan dalam produksi.
| Item Type: | Article |
|---|---|
| Subjects: | Sains > Kimia |
| Depositing User: | OJS LPPM UNJ . |
| Date Deposited: | 07 Mar 2025 14:22 |
| Last Modified: | 07 Mar 2025 14:22 |
| URI: | http://repository.unj.ac.id/id/eprint/55200 |
Actions (login required)
 |
View Item |
