STUDI PENGARUH PERBEDAAN WAKTU TUMBUH TERHADAP STRUKTUR KRISTAL DAN MORFOLOGI LAPISAN TIPIS ZnO

AYU MUTIA, . (2016) STUDI PENGARUH PERBEDAAN WAKTU TUMBUH TERHADAP STRUKTUR KRISTAL DAN MORFOLOGI LAPISAN TIPIS ZnO. Sarjana thesis, UNIVERSITAS NEGERI JAKARTA.

Text 3225122050- AYU MUTIA.pdf Download (2MB)

Abstract

Telah disintesis lapisan tipis ZnO di atas substrat Si (111) pada suhu 450˚C menggunakan teknik Ultrasonic Spray Pyrolysis (USP). Serbuk Zn(CH3COO)2.2H2O digunakan sebagai prekursor dengan air de-ionisasi sebagai pelarut. Variasi waktu tumbuh mulai dari 10, 20, dan 30 menit dilakukan untuk mengetahui pengaruhnya terhadap struktur kristal lapisan tipis ZnO. Hasil analisis X-Ray Diffraction (XRD) menunjukkan bahwa lapisan tipis ZnO memiliki struktur polikristal hexagonal wurtzite dengan orientasi bidang dominan (100), (002), dan (101). Besarnya ukuran butir untuk sampel dengan suhu tumbuh 10, 20, dan 30 menit memiliki nilai minimum sebesar 24,2 nm dan nilai maksimum sebesar 41,8 nm. Sedangkan nilai d-spacing dan FWHM untuk setiap sampel bervariasi seiring dengan perbedaan waktu tumbuh. Morfologi lapisan tipis ZnO memperlihatkan bahwa permukaan film cenderung padat dan seragam dengan nilai rms roughness masing-masing 25.715 nm, 17.853 nm, dan 27.391 nm untuk sampel dengan waktu tumbuh 10, 20, dan 30 menit. ZnO thin films have been synthesized on Si (111) substrate at temperature of 450˚C by Ultrasonic Spray Pyrolysis (USP) technique. Zn(CH3COO)2.2H2O powder as precursor and deionized water as a solvent. Variation in time growth from 10, 20, and 30 minutes have been performed in order to investigate the effect on crystalline structure of ZnO thin films. On the basis of X-Ray Diffraction (XRD) analysis, the grown ZnO thin films exhibit a polycrystalline hexagonal wurtzite with the (100), (002, and (101)) as a crystallographic orientation.. The grain size of sampel with growth time 10, 20, and 30 minutes have minimum value 24,2 nm and maximum value 41,8 nm. Whereasd-spacing and FWHM value for each sample were vary in difference of growth time. Morphological properties of ZnO thin film show that the surface of the entire specimen has a dense and homogeneous with rms roughness was measured respective are 25.715, 17.853, and 27.391 nm.

Item Type:	Thesis (Sarjana)
Additional Information:	1) Dr.Iwan Sugihartono, M.Si 2) Drs. Anggara Budi Susila, M.Si
Subjects:	Sains > Fisika
Divisions:	FMIPA > S1 Fisika
Depositing User:	sawung yudo
Date Deposited:	28 Mar 2022 03:15
Last Modified:	28 Mar 2022 03:15
URI:	http://repository.unj.ac.id/id/eprint/25427

Actions (login required)

View Item